材料现代分析方法试题库一、填空1、第一个发现X射线的科学家是，第一个进行X射线衍射实验的科学家是，其波长为2、X射线的本质是性，又具有3、X射线本质上是一种，它既具有性，X射线衍射分析是利用了它的和有关。4、特征X射线的波长与无关。而与5、X射线一方面具有波动性，表现为具有一定的，另一方面又具有粒子性，体现为具有一定的二者之间的关系为与其的关系。6、莫塞来定律反映了材料产生的和7、从X射线管射出的X射线谱通常包括和8、当高速的电子束轰击金属靶会产生两类X射线，它们是，其中在X射线粉末衍射中采用的是9、特征X射线是由元素原子中引起的，因此各元素都有特定的和定律。电压，特征谱与原子序数之间服从；能量从小10、同一元素的入Kal、入Kg2、入KB的相对大小依次为到大的顺序是。（注：用不等式标出）11、X射线通过物质时，部分X射线将改变它们前进的方向，即发生散射现象。和X射线的散射包括两种：12、hu+ky+h=0关系式称为,若晶面(hkl)和晶向[uvw]满足该关系式，表明15、倒易点阵是由晶体点阵按照[1(i = ])af-a, =10%*)）式中，“为倒易点阵基矢，为正点阵基失的对应关系建立的空间点阵。在这个倒易点阵中，倒易失量的坐标表达式为，其基本性质为
材料现代分析方法试题库 一、填空 1、第一个发现 X 射线的科学家是 ，第一个进行 X 射线衍射实验的科学 家是 。 2、X 射线的本质是 ，其波长为 。 3、X 射线本质上是一种_，它既具有_性，又具有 _性，X 射线衍射分析是利用了它的_ _。 4、特征 X 射线的波长与 和 无关。而与 有关。 5、X 射线一方面具有波动性，表现为具有一定的 ，另一方面又具有粒子 性，体现为具有一定的 ，二者之间的关系为 。 6、莫塞来定律反映了材料产生的 与其 的关系。 7、从 X 射线管射出的 X 射线谱通常包括 和 。 8、当高速的电子束轰击金属靶会产生两类 X 射线，它们是_和 _，其中在 X 射线粉末衍射中采用的是_ _ 。 9、特征 X 射线是由元素原子中_引起的，因此各元素都有特定的 _和_电压，特征谱与原子序数之间服从_ _定律。 10、同一元素的入 Kα1、入 Kα2、入 Kβ 的相对大小依次为_；能量从小 到大的顺序是_。(注：用不等式标出) 11、X 射线通过物质时，部分 X 射线将改变它们前进的方向，即发生散射现象。 X 射线的散射包括两种： 和 。 12、hu+kv+lw=0 关系式称为_ ,若晶面(hkl)和晶向[uvw]满足该关 系式，表明_ 。 15、倒易点阵是由晶体点阵按照 式中， 为倒易点阵基矢， 为正点阵基矢 的对应关系建立的空间点阵。在这个倒易点阵中，倒易矢量 的坐标表达 式 为 ，其基本性质为
14、X射线在晶体中产生衍射时，其衍射方向与晶体结构、入射线波长和入射线和方位间的关系可用四种方法来表达。15、当波长为入的X射线照射到晶体并出现衍射线时，相邻两个（hkl）反射线的波程差是，相邻两个（HKL）反射线的波程差是，0表16、布拉格公式入=2dsine中2表示_，d表示示17、获得晶体衍射花样的三种基本方法是o来获得衍18.获得晶体衍射花样三种基本的方法中，劳埃法是通过改变射花样的，主要用于判断旋转单晶法是旋转晶体，改变；粉末法是通过单色来获得衍射花样的，主要用于研究X射线照射多晶体样品，改变来产生衍射的，测定样品的而产19、当X射线照射在一个晶体时，产生衍射的必要条件是生衍射的充要条件是和20、X射线的衍射的强度主要取决于21、X射线衍射仪探测器主要性能是上，二者22、测角仪在工作时，为了使样品与计数管始终在同一个的转速必须保持23、测角仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线成300角，则计数管与入射线所成角度为：能产生衍射的晶面，与试样的自由表面呈关系。24、粉末照相法底片安装方法有三种：和25、粉末衍射仪法衍射峰20角的测量方法有和两种。26、多晶X射线粉末衍射分析方法通常有27.X射线衍射仪的新进展主要有三个方面
14、X 射线在晶体中产生衍射时，其衍射方向与晶体结构、入射线波长和入射线 方位间的关系可用_ _ _、_ _、_和 _四种方法来表达。 15、当波长为 λ 的 X 射线照射到晶体并出现衍射线时，相邻两个（hkl）反射线 的波程差是 ，相邻两个（HKL）反射线的波程差是 。 16、布拉格公式 λ=2dsinθ 中 λ 表示 ，d 表示 ，θ 表 示 。 17、获得晶体衍射花样的三种基本方法是 、 、 。 18．获得晶体衍射花样三种基本的方法中，劳埃法是通过改变 来获得衍 射花样的，主要用于判断 ；旋转单晶法是旋转晶体，改 变 来获得衍射花样的，主要用于研究 ；粉末法是通过单色 X 射线照射多晶体样品，改变 来产生衍射的，测定样品的 。 19、当 X 射线照射在一个晶体时，产生衍射的必要条件是_,而产 生衍射的充要条件是_ _ _ 。 20、X 射线的衍射的强度主要取决于 和 。 21、X 射线衍射仪探测器主要性能是 、 、 、 、 。 22、测角仪在工作时，为了使样品与计数管始终在同一个_ _上，二者 的转速必须保持_。 23、测角仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线成 300 角，则计数管与 入射线所成角度为 ；能产生衍射的晶面，与试样的自由表面呈 关系。 24、粉末照相法底片安装方法有三种： 、 和 。 25、粉末衍射仪法衍射峰 2θ 角的测量方法有 、 、 。 26、多晶 X 射线粉末衍射分析方法通常有 和 两种。 27．X 射线衍射仪的新进展主要有 、 、 三个方面
索引和28、PDF卡片的二种常用的数值索引是索引，前者是按衍射线的顺序排列的，后者是按衍射线的顺序排列的。，参考29、利用衍射卡片鉴定物相的主要依据是30、X射线衍射定量分析的方法有31、精确测定点阵参数校正或消除误差常用的有哪三种方法？有三种方法。两种。和32、X射线衍射仪测定宏观应力的方法主要有个方向上某晶33、为了测得材料表面沿某个方向上的宏观应力，至少要测面的晶面间距，相应的方法称为三种34、织构表示方法有35、计算机技术在多晶体衍射中的应用主要有三个方面：①②③36、光学显微镜是可见光束通过光学透镜发生达到放大的目的，而成像于：电子显微镜是电子束通过电磁场（电子透镜）发生达到放大的目的，并成像于和37、电镜中透镜分辨本领取决于38、波谱仪分析的元素范围为，能谱分析的元素范围为和39、扫描电镜图像的分辨率决定于C和40、透射电镜中的电子光学系统可分为三部分。41、倒易矢量的长度等于正点阵中42、爱瓦尔德球图解法是的几何表达形式。，L表43、电子衍射基本公式R=2Lg中的R表示，入表示示，g表示的能力。44、谱仪的分辨率是
28、PDF 卡片的二种常用的数值索引是_ _索引和_ _索引，前者 是按衍射线的_顺序排列的，后者是按衍射线的_顺序排列的。 29、利用衍射卡片鉴定物相的主要依据是_ _，参考_ _。 30、X 射线衍射定量分析的方法有 、 、 、 、 。 31 、精确测定点阵参数校正或消除误差常用的有哪三种方法？ 有 、 、 三种方法。 32、X 射线衍射仪测定宏观应力的方法主要有 和 两种。 33、为了测得材料表面沿某个方向上的宏观应力，至少要测_个方向上某晶 面的晶面间距，相应的方法称为_ 。 34、织构表示方法有 、 、 三种 35、计算机技术在多晶体衍射中的应用主要有三个方面：① 、 ② 、③ 。 36、光学显微镜是可见光束通过光学透镜发生 达到放大的目的，而 成像于 ；电子显微镜是电子束通过电磁场（电子透镜） 发生 达到放大的目的，并成像于 。 37、电镜中透镜分辨本领取决于 和 。 38、波谱仪分析的元素范围为 ，能谱分析的元素范围为 。 39、扫描电镜图像的分辨率决定于 和 。 40、透射电镜中的电子光学系统可分为 、 和 三部分。 41、倒易矢量的长度等于正点阵中 。 42、爱瓦尔德球图解法是 的几何表达形式。 43、电子衍射基本公式 R = λLg 中的 R 表示 ，λ 表示 ，L 表 示 ，g 表示 。 44、谱仪的分辨率是 的能力
45、电子波长与其加速电压平方根成，加速电压越，电子波长越和46、透射电镜粉末样品制备方法有47、复杂电子衍射花样通常包括和48、电子探针X射线显微分析中常用X射线谱仪有49、光电子发射可以分为三个过程，即（1）:(2)(3)和50、像差分为两类。51、金属薄膜制备过程大体是：52、X射线光电子能谱是测定低能电子的动能从而得到光电子的53、真正能够保持其特征能量而逸出表面的俄歇电子却仅限于表层以下nm的深度范围。和54、透射电镜的主要性能指标是55、透射电镜成像系统中，若使中间镜物平面与物镜像平面重合的操作称为操作。操作；而使中间镜的物平面与物镜背焦面重合的操作称为56、扫描电镜由和等部分组成。57、扫描电镜中样品制备的镀膜方法主要有两种：一种是，另一种方法是58、电子探针显微分析有四种基本分析方法：和和59、电子衍射成像中所指的双光束是60、TEM中物镜的作用是中间镜在成像时的作用是61、衡量透镜的性能优劣的指标是它取决于
45、电子波长与其加速电压平方根成 ，加速电压越 ，电子波长 越 。 46、透射电镜粉末样品制备方法有 和 。 47、复杂电子衍射花样通常包括 、 、 、 、 。 48、电子探针 X 射线显微分析中常用 X 射线谱仪有 和 。 49、光电子发射可以分为三个过程，即（1） ； （2） ；（3） 。 50、像差分为 和 两类。 51、金属薄膜制备过程大体是： 、 、 。 52、X 射线光电子能谱是测定低能电子的动能从而得到光电子的 。 53、真正能够保持其特征能量而逸出表面的俄歇电子却仅限于表层以下 nm 的 深度范围。 54、透射电镜的主要性能指标是 、 和 。 55、透射电镜成像系统中，若使中间镜物平面与物镜像平面重合的操作称为 操作；而使中间镜的物平面与物镜背焦面重合的操作称为 操作。 56、扫描电镜由 、 、 、 、 和 等部分组成。 57、扫描电镜中样品制备的镀膜方法主要有两种：一种是 ，另一种方 法是 。 58、电子探针显微分析有四种基本分析方法： 、 、 和 。 59、电子衍射成像中所指的双光束是 和 。 60、 TEM 中物镜的作用是 。 中间镜在成像时的作用是 ， 。 61、衡量透镜的性能优劣的指标是 ，它取决于
62、TEM的电子光学系统是由组成的。63、平行于膜面的层错衬度特征是倾斜与膜面的层错衬度特征是64、影响SEM分辨率的主要因素有65、通常SEM的分辨率是指，其成像衬度原理为66、完整晶体和不完整晶体运动学理论衍射振幅的表达式为元r['exp(-2usz ]d,中,=2E（完整晶体）0 -lep(-2nz)ep(- 2ng RS（不完整晶体）对于给定的缺陷，R(x,y,z)是确定的，g是用于成像的操作反射，令N=g·R，则缺陷是否可见的重要判据是；各类型位错衬度消失的一个实际可行的有效判据是67、消光距离是指68、结构消光是指其物理含义69、电子衍射的相机常数为是70、衡量透镜的性能优劣的指标是它取决于71、商品TEM的三个主要指标是72、制备复型的材料应具备的性质要求是73、双光束衍射条件是
62、 TEM 的电子光学系统是由 组成的。 63、 平行于膜面的层错衬度特征是 ， 倾斜与膜面的层错衬度特征是 。 64、 影响 SEM 分辨率的主要因素有 . 。 65、 通常 SEM 的分辨率是指 ，其成像衬度原理 为 。 66、完整晶体和不完整晶体运动学理论衍射振幅的表达式为: （完整晶体） （不完整晶体） 对于给定的缺陷，R(x,y,z)是确定的，g 是用于成像的操作反射，令 N = gR， 则缺陷是否可见的重要判据是 ；各类型位错衬度消失的一个实 际可行的有效判据是 。 67、消光距离g是指 . 。 68、结构消光是指 . . 。 69 、电子衍射的相机常数为 ， 其 物 理 含 义 是 。 70、衡量透镜的性能优劣的指标是 ，它取决于 。 71、商品 TEM 的三个主要指标是 、 、 。 72、制备复型的材料应具备的性质要求是 . . 。 73、双光束衍射条件是 .