表面分析技术 X射线光电子谱(XPS) 用单色X射线轰击样品导致了光电子逸出 通过测量光电子的动能可直接确定元素。 在更精细的尺度上,动能的微小变化能够反映 元素的化学状态
表面分析技术 X射线光电子谱(XPS) 用单色 X射线轰击样品导致了光电子逸出。 通过测量光电子的动能可直接确定元素。 在更精细的尺度上，动能的微小变化能够反映 元素的化学状态
通过测量光电子的强度可以测定元素含量。 对于固体样品,可以探测2~20个原子层深度 的范围,探测深度依赖于被测材料、光电子能 量和探测的角度。 从生物到冶金材料广阔的范围里,X射线光 电子谱的优点是可无标样半定量测定表面元素
通过测量光电子的强度可以测定元素含量。 对于固体样品，可以探 测 2 ～20个原子层深度 的范围，探测深度依赖于被测材料、光电子能 量和探测的角度。 从生物到冶金材料广阔的范围里， X射线光 电子谱的优点是可无标样半定量测定表面元素
紫外光电子谱(UPS) 能量10-00eV范围的单色紫外线照射样品,光 电子将从原子的价键能级和深层芯能级中发射 出来。对所发射电子动能分布的测量就是紫外 光电子谱。 此技术的原理与X光光电子谱基本相同,区别 只在于入射光子的能量要低许多,并且研究的 侧重点是价电子能级而不是芯能级
紫外光电子谱(UPS) 能量10-l00eV范围的单色紫外线照射样品，光 电子将从原子的价键能级和深层芯能级中发射 出来。对所发射电子动能分布的测量就是紫外 光电子谱。 此技术的原理与X光光电子谱基本相同，区别 只在于入射光子的能量要低许多，并且研究的 侧重点是价电子能级而不是芯能级
正是由于这种特点,紫外光电子谱被用来进 行固体表面的电子结构分析而不是对整个材料 进行分析。 在许多情况下,紫外光电子谱比X射线光电子 谱在样品表面分析上有更多的优越性
正是由于这种特点，紫外光电子谱被用来进 行固体表面的电子结构分析而不是对整个材料 进行分析。 在许多情况下，紫外光电子谱比 X射线光电子 谱在样品表面分析上有更多的优越性
俄歇电子谱(AES) 用一束会聚电子束照射固体后在表面附近所 产生的二次电子。 俄歇电子反映元素的能量特征,许多情况下 反映了释放出俄歇电子的原子的化学键特征
俄歇电子谱(AES) 用一束会聚电子束照射固体后在表面附近所 产生的二次电子。 俄歇电子反映元素的能量特征，许多情况下 反映了释放出俄歇电子的原子的化学键特征