晶粒大小的测定 ·当晶粒度等于1000A,衍射峰呈尖锐的谱线;小于 1000A衍射峰逐渐变宽;小于10A时,衍射峰非常弥 散与背景不易分开。 Scherrer从理论上推导出晶粒大 小与衍射线加宽的关系如下 K入 COS 实际测得的衍射峰宽度还要扣除仪器加宽度和Kα双线 加宽度,才是晶粒大小所引起的纯加宽度
晶粒大小的测定 • 当晶粒度等于1000 Å，衍射峰呈尖锐的谱线；小于 1000Å 衍射峰逐渐变宽；小于10 Å时，衍射峰非常弥 散与背景不易分开。Scherrer从理论上推导出晶粒大 小与衍射线加宽的关系如下： • Kλ • D=———— • βcosθ • 实际测得的衍射峰宽度还要扣除仪器加宽度和Kα双线 加宽度，才是晶粒大小所引起的纯加宽度
粉末衍射图含有的信息 特性 信 峰位置 晶胞大小,定性分析 非确定峰 晶体杂质 背底 无定型物质 峰的半高宽 晶体大小,应力变形,堆积缺陷 峰强度 晶体结构,定量分析 系统性消失 对称性
粉末衍射图含有的信息 • 特性 信息 • 峰位置 晶胞大小 ，定性分析 • 非确定峰 晶体杂质 • 背底 无定型物质 • 峰的半高宽 晶体大小，应力变形，堆积缺陷 • 峰强度 晶体结构 ，定量分析 • 系统性消失 对称性
XRD在分子筛的应用 晶化产物的测定 改性产物的测定 结晶度的测定 点阵常数的测定
XRD在分子筛的应用 • 晶化产物的测定 • 改性产物的测定 • 结晶度的测定 • 点阵常数的测定