特征X线 >平均能量高总能量低 >跃迁所致 >表征靶物质原子结构 >K、L、M系辐射 >K系为主 I=Ki (U-Uk)n >影响因素：管电压、靶物质、激发电压
特征X线 ➢ 平均能量高总能量低 ➢ 跃迁所致 ➢ 表征靶物质原子结构 ➢ K、L、M系辐射 ➢ K系为主 ➢ I=Ki（U-Uk）n ➢ 影响因素：管电压、靶物质、激发电压
五、X线量与X线质 >强度I=NxhY >线量N >线质hY >单能与光谱 >毫安秒与线量 >管电压与线质 >半价层(HVL)与线质
五、X线量与X线质 ➢ 强度I=Nxhγ ➢ 线量N ➢ 线质h γ ➢ 单能与光谱 ➢ 毫安秒与线量 ➢ 管电压与线质 ➢ 半价层（HVL）与线质
六、影响X线产生的因素 >靶物质-Z >管电压-KV >管电流-mA
六、影响X线产生的因素 ➢ 靶物质-Z ➢ 管电压-Kv ➢ 管电流-mA
>靶物质 覆 钨 Z=74 锡 Z=50 钨 最大光子能量相同 锡 靶物质正比于强度 光子能量
➢ 靶物质 钨 Z=74 锡 Z=50 最大光子能量相同 靶物质正比于强度 钨 锡 强度 光子能量