用户指南和产品规范 N|UsB-008/6009 本用户指南主要介绍数据采集(DAQ)设备NUSB6008/6009的使用方法 和产品规范 说明 NI USB-6o08/6009可提供8个模拟输入(A)通道、2个模拟输出(A○)通 道、12个数字输入/输出(D|O)通道以及一个带全速UB接口的32位计 数器 注本文档更新了命名规范,使其与N- DASmx行文规范一致。表1详细给出了新旧 命名规范的对照关系 表1数字输出驱动类型的命名规范 硬件功能 N- DASmX术语 漏极开路 集电极开路 推挽 有涯 源驱动 表2NUSB6008和NUSB6009的区别 NI USB-6008 NI USB-6009 A分辨率 12位差分, 14位差分 11位单端 13位单端 最大A采样率,单个通道 10 kS/s 48 kS/s 最大A|采样率,多个通道(总计) 10 kS/s 48 kS/s D○配置 集电极开路 集电极开路或有源驱动 取决于所用系统 NATIONAL INSTRUMENTS
用户指南和产品规范 NI USB-6008/6009 本用户指南主要介绍数据采集 (DAQ) 设备 NI USB-6008/6009 的使用方法 和产品规范。 说明 NI USB-6008/6009 可提供 8 个模拟输入 (AI) 通道、 2 个模拟输出 (AO) 通 道、 12 个数字输入 / 输出 (DIO) 通道以及一个带全速 USB 接口的 32 位计 数器。 注 本文档更新了命名规范，使其与 NI-DAQmx 行文规范一致。表 1 详细给出了新旧 命名规范的对照关系。 表 1 数字输出驱动类型的命名规范 硬件功能 NI-DAQmx 术语 漏极开路 集电极开路 推挽 有源驱动 表 2 NI USB-6008 和 NI USB-6009 的区别 特性 NI USB-6008 NI USB-6009 AI 分辨率 12 位差分， 11 位单端 14 位差分， 13 位单端 最大 AI 采样率，单个通道 * 10 kS/s 48 kS/s 最大 AI 采样率，多个通道 （总计）* 10 kS/s 48 kS/s DIO 配置 集电极开路 集电极开路或有源驱动 * 取决于所用系统
i YINSTROUMAENTS 。。00。。°0。0 lUsB电缆固定孔 图1NUSB6008/6009俯视图 图2NUSB6008/6009后视图 NUSB608/6009用户指南和产品规范 2 ni. com/ china
NI USB-6008/6009 用户指南和产品规范 2 ni.com/china 图 1 NI USB-6008/6009 俯视图 图 2 NI USB-6008/6009 后视图 1 USB 电缆固定孔 NI USB-6009 8 Inputs, 14-bit, Multifunction I/O 32 Digital 17 1 Analog 16 1
尺寸 图3为NUSB6008/6009设备的尺寸图 23.8mm 81.81mm (3221in) :°。::°:: 8509mm 76.09m 8。。。。 (2500in) 图3NUSB6008/6009设备,以毫米(英寸)为单位 安全守则 △注意请遵NUSB80的使用说明 安装和使用NUSB6008/6009时必须遵循下文提到的重要安全守则 注意请勿尝试采用本文档未提到的其它方式操作NUSB6008/6009。错误操作设备可 能发生危险。设备损坏时,内部的安全保护机制也会受到影响。关于受损设备的 维修事宜,请联系 National Instruments 注意请勿尝试采用本文档未提到的其它方式替换设备元器件或改动设备。仅可将设备 与安装说明中允许的机箱、模块、附件及线缆配套使用。设备运行期间需关闭所 有盖板和填充面板 注意请勿在可能发生爆炸的环境中或存在易燃气体的情况下使用设备。如必须用于此 类环境,请选择合适的外壳。 g National Instruments Corporation NUSB6008/6009用户指南和产品规范
© National Instruments Corporation 3 NI USB-6008/6009 用户指南和产品规范 尺寸 图 3 为 NI USB-6008/6009 设备的尺寸图。 图 3 NI USB-6008/6009 设备，以毫米 （英寸）为单位 安全守则 注意 请遵循 NI USB-6008/6009 的使用说明。 安装和使用 NI USB-6008/6009 时必须遵循下文提到的重要安全守则。 注意 请勿尝试采用本文档未提到的其它方式操作 NI USB-6008/6009。错误操作设备可 能发生危险。设备损坏时，内部的安全保护机制也会受到影响。关于受损设备的 维修事宜，请联系 National Instruments。 注意 请勿尝试采用本文档未提到的其它方式替换设备元器件或改动设备。仅可将设备 与安装说明中允许的机箱、模块、附件及线缆配套使用。设备运行期间需关闭所 有盖板和填充面板。 注意 请勿在可能发生爆炸的环境中或存在易燃气体的情况下使用设备。如必须用于此 类环境，请选择合适的外壳。 81.81 mm (3.221 in.) 63.50 mm (2.500 in.) 72.65 mm (2.860 in.) NATIONAL INSTRUMENTS 85.09 mm (3.350 in.) 23.19 mm (0.913 in.) 76.09 mm (2.996 in.)
请使用干布清洁设备。设备恢复运行前,请先验证设备是否完全干燥且不会 产生污染 设备工作环境的污染等级应小于等于二级。污染是指固态、液态或气态杂 物,它会降低设备的绝缘强度或表面电阻率。污染等级说明如下: 污染等级1是指无污染或仅有干燥的、非导电性污染。此污染无影响 污染等级2是指大多数情况下,仅产生非导电性污染。但需考虑偶然由 凝露引起的短暂导电性污染 污染等级3是指导电性污染,或由于凝露使干燥非导电性污染变成导电 性污染 根据设备最大额定电压,选择相应的信号绝缘线。请勿超出设备最大额定 设备接通电气信号时,请勿进行设备连线。如系统己接通电源,请勿卸 除或安装接线盒。热插拔模块时,应避免人体与接线盒内信号接触。设备连 接或断开信号线时,请先移除信号线电源。 设备满足的测量等级低于或等于 Measurement Category。测量电路 在测量或测试过程中需承受工作电压2和来自与其连接电路的电压瞬变(过 电压)。测量类别定义了配电系统中常见的标准脉冲耐压等级。测量类别的 说明如下 Measurement Category|适用于在与配电系统(MANS3电压)非 直接相连的电路上进行的测量。该类别用于测量受特殊保护的二级电路 的电压。这类电压测量包括对信号电平、特殊设备、设备能量有限制的 部件、由低稳压源供电的电路,以及电子设备的测量 Measurement Category适用于在与配电系统直接相连的电路上进 行的测量。该类别需参见当地配电标准(例如,标准壁装插座电源在 美国为115V,在欧洲为230V)。此类测量包括家用电器、便携式工 具和类似设备的测量 Measurement CategoryⅢ适用于在建筑物设施中进行的测量。此类 测量包括在硬接线设备(例如,固定设备、配电板和断路器)上进行 的测量,以及在布线(例如,电缆、汇流条、开关、固定式插座和与 固定设备永久性连接的发动机)上进行的测量 Measurement CategoryⅣ适用于在供电装置上进行的测量 (1000V)。例如,电表、初级过流保护设备和纹波控制单元的测量 电气设备安全标准任C6010-1对测量类别进行了分类,测量类别也称为安装 工作电压是指任何绝缘体上可能存在的最大交流电压有效值或直流电压值。 MANS是指为设备提供电力的危险带电供电系统。符合条件的电路也可连至用于测量目的的 MAINS系统 NUSB608/6009用户指南和产品规范 ni. com/ china
NI USB-6008/6009 用户指南和产品规范 4 ni.com/china 请使用干布清洁设备。设备恢复运行前，请先验证设备是否完全干燥且不会 产生污染。 设备工作环境的污染等级应小于等于二级。污染是指固态、液态或气态杂 物，它会降低设备的绝缘强度或表面电阻率。污染等级说明如下： • 污染等级 1 是指无污染或仅有干燥的、非导电性污染。此污染无影响。 • 污染等级 2 是指大多数情况下，仅产生非导电性污染。但需考虑偶然由 凝露引起的短暂导电性污染。 • 污染等级 3 是指导电性污染，或由于凝露使干燥非导电性污染变成导电 性污染。 根据设备最大额定电压，选择相应的信号绝缘线。请勿超出设备最大额定 值。设备接通电气信号时，请勿进行设备连线。如系统已接通电源，请勿卸 除或安装接线盒。热插拔模块时，应避免人体与接线盒内信号接触。设备连 接或断开信号线时，请先移除信号线电源。 设备满足的测量等级低于或等于 Measurement Category I1。测量电路 在测量或测试过程中需承受工作电压2 和来自与其连接电路的电压瞬变 （过 电压）。测量类别定义了配电系统中常见的标准脉冲耐压等级。测量类别的 说明如下： • Measurement Category I 适用于在与配电系统 （MAINS3 电压）非 直接相连的电路上进行的测量。该类别用于测量受特殊保护的二级电路 的电压。这类电压测量包括对信号电平、特殊设备、设备能量有限制的 部件、由低稳压源供电的电路，以及电子设备的测量。 • Measurement Category II 适用于在与配电系统直接相连的电路上进 行的测量。该类别需参见当地配电标准 （例如，标准壁装插座电源在 美国为 115 V，在欧洲为 230 V）。此类测量包括家用电器、便携式工 具和类似设备的测量。 • Measurement Category III 适用于在建筑物设施中进行的测量。此类 测量包括在硬接线设备 （例如，固定设备、配电板和断路器）上进行 的测量，以及在布线 （例如，电缆、汇流条、开关、固定式插座和与 固定设备永久性连接的发动机）上进行的测量。 • Measurement Category IV 适用于在供电装置上进行的测量 (<1000 V)。例如，电表、初级过流保护设备和纹波控制单元的测量。 1 电气设备安全标准 IEC 61010-1 对测量类别进行了分类，测量类别也称为安装类别。 2 工作电压是指任何绝缘体上可能存在的最大交流电压有效值或直流电压值。 3 MAINS 是指为设备提供电力的危险带电供电系统。符合条件的电路也可连至用于测量目的的 MAINS 系统
相关文档 每套应用软件包和驱动程序都包括完成测量和控制测量设备的编程信息 列参考文档假定用户已安装 NEDASmx87或更高版本,如使用N应用 软件,其版本应为7.1或更高 用于 Windows平台的N|- DAOmX DAQ入门指南介绍安装 NHDASmx(用于 Windows平台)和其支持的 DAQ设备,以及判断设备工作状态的方法。点击开始程序 National nstruments} DAOoDAS入门指南查看文档。 N-DAQ自述文件中列出了此版本的NDAQ支持的设备信息。点击开始 程序 National Instruments N- DAONI-DAS自述文件查看文档。 N- DAQmX帮助介绍测量概念、 NI-DASmⅨ重要概念以及适用于所有编程 环境的常见应用程序。点击开始程序 National instrumentsxNE-DAs N- DAOmX帮助查看文档 关于非Windows操作系统的支持信息,请访问ni.com/info,输入信息代码 aseGsGML查询。 LabvIEw 新用户可通过 Lab VEW入λ门指南熟悉 LabVIEW图形化编程环境, 掌握 LabVIEW创建数据采集和仪器控制应用程序的基本特性。点击 开始”程序 National InstrumentslabviewxlabⅥEW帮助查看 Lab VEV入门指南,或访问1 abview\ manua1s路径下的 LV_ Getting_ Started. paf 在 Lab VIEW中点击帮助》搜索 LabvIEW帮助,通过 Lab EW帮助熟悉 LabVIEW编程理论、编程分步指导以及Ⅵ、函数、选板、菜单和工具的相 关信息。关于 NHDAQmx的相关信息,可查看下列 Lab VIEW帮助目录 LabvIEW入门指南→DAQ入门指南一包括软件概述和使用DAQ助手在 LabVIEW中进行 NI-DAQmX测量的教程。 Ⅵ和函数测量/OⅥ和函数一介绍 LabVIEW NI-DASmxⅥ和属性 仪备测量一介绍在 LabVIEW中采集和分析测量数据的概念及详解, 包括常见测量、测量基础、 NF-DASmx重要概念和设备信息。 Labwindows/cV LabWindows/CⅥHe中的 Data Acquisition一章介绍了 NI-DASmx测量概念,其中 Taking an NA-DAQmx Measurement in LabWindows/CⅥ主题包括使用DAQ助手创建测量任务的分步指导 在 LabWindows/Cv"中,点击 Help Contents,点击Usng Labwindows/cⅥ Data Acquisition查看文档。 g National Instruments Corporation NUSB6008/6009用户指南和产品规范
© National Instruments Corporation 5 NI USB-6008/6009 用户指南和产品规范 相关文档 每套应用软件包和驱动程序都包括完成测量和控制测量设备的编程信息。 下列参考文档假定用户已安装 NI-DAQmx 8.7 或更高版本，如使用 NI 应用 软件，其版本应为 7.1 或更高。 用于 Windows 平台的 NI-DAQmx DAQ 入门指南介绍安装 NI-DAQmx （用于 Windows 平台）和其支持的 DAQ 设备，以及判断设备工作状态的方法。点击开始 » 程序 »National Instruments»NI-DAQ»DAQ 入门指南查看文档。 NI-DAQ 自述文件中列出了此版本的 NI-DAQ 支持的设备信息。点击开始 » 程序 »National Instruments»NI-DAQ»NI-DAQ 自述文件查看文档。 NI-DAQmx 帮助介绍测量概念、 NI-DAQmx 重要概念以及适用于所有编程 环境的常见应用程序。点击开始 » 程序 »National Instruments»NI-DAQ» NI-DAQmx 帮助查看文档。 注 关于非 Windows 操作系统的支持信息，请访问 ni.com/info，输入信息代码 BaseGSGML 查询。 LabVIEW 新用户可通过 LabVIEW 入门指南熟悉 LabVIEW 图形化编程环境， 掌握 LabVIEW 创建数据采集和仪器控制应用程序的基本特性。点击 开始 » 程序 »National Instruments»LabVIEW»LabVIEW 帮助查看 LabVIEW 入门指南，或访问 labview\manuals 路径下的 LV_Getting_Started.pdf。 在 LabVIEW 中点击帮助 » 搜索 LabVIEW 帮助，通过 LabVIEW 帮助熟悉 LabVIEW 编程理论、编程分步指导以及 VI、函数、选板、菜单和工具的相 关信息。关于 NI-DAQmx 的相关信息，可查看下列 LabVIEW 帮助目录 : • LabVIEW入门指南»DAQ入门指南—包括软件概述和使用DAQ助手在 LabVIEW 中进行 NI-DAQmx 测量的教程。 • VI和函数»测量I/O VI和函数—介绍LabVIEW NI-DAQmx VI和属性。 • 仪器测量 — 介绍在 LabVIEW 中采集和分析测量数据的概念及详解， 包括常见测量、测量基础、 NI-DAQmx 重要概念和设备信息。 LabWindows/CVI LabWindows/CVI Help 中的 Data Acquisition 一章介绍了 NI-DAQmx 测量概念，其中 Taking an NI-DAQmx Measurement in LabWindows/CVI 主题包括使用 DAQ 助手创建测量任务的分步指导。 在 LabWindows™/CVI™ 中，点击 Help»Contents, 点击 Using LabWindows/CVI»Data Acquisition 查看文档