离子键的特点 1.离子键的本质是库仑静电作用力 F=g/R q、q为离子所带电荷,R为离子核间距 离子键强度是用晶格能来描述的。 2.离子键的特点:既无方向性,也无饱和性。 离子化合物是由正负离子通过离子键相互 交替连结而成的晶体结构。 3.离子键的离子性与元素的电负性差有关 两元素的电负性差Δx判断键的性质
一、离子键的特点 1. 离子键的本质是库仑静电作用力 F = q + q - /R2 q + 、q - 为离子所带电荷, R为离子核间距。 离子键强度是用晶格能来描述的。 2. 离子键的特点：既无方向性，也无饱和性。 离子化合物是由正负离子通过离子键相互 交替连结而成的晶体结构。 3. 离子键的离子性与元素的电负性差有关。 两元素的电负性差 x判断键的性质
二、离子键的强度 1.晶格能U:lmo离子晶体解离成自由气态离子 时所吸收的能量。 U=-Vro= INAZ, Z e(1-1/n)/4g Coro oc Z,Z/ro N、A为常数,n与电子构型有关,ZZ为正 负离子电荷数
1. 晶格能U: 1mol离子晶体解离成自由气态离子 时所吸收的能量。 U = -Vr0 = [NAZ+Ze 2 (1-1/n)]/4 0 r0 Z+Z- /r0 N、A为常数，n与电子构型有关，Z+Z-为正 负离子电荷数。 二、离子键的强度
2.晶格能的应用 a.可以比较离子键的强度和晶体的稳定性。 昰格能越大,昰体的熔点越高,硬度越大 热膨胀系数越小。压缩系数越小。 b.由于离子化合物中存在一定的共价成分,实 验晶格能往往比理论计算值大,实验值比i计 算值大的越多,说明化合物中存在更多的共 价成分 练习:根据晶格能的定义解释p43表21中 化合物的熔点变化趋势
2. 晶格能的应用： a. 可以比较离子键的强度和晶体的稳定性。 晶格能越大，晶体的熔点越高，硬度越大， 热膨胀系数越小。压缩系数越小。 b. 由于离子化合物中存在一定的共价成分，实 验晶格能往往比理论计算值大，实验值比计 算值大的越多，说明化合物中存在更多的共 价成分。 练习：根据晶格能的定义解释p43表2.1中 化合物的熔点变化趋势
三、决定离子化合物性质的主要因素 1.离子的电荷:原子在形成离子化合物过程 中,失去或得到的电子数。 2.离子的电子构型 简单负离子一般最外层具有稳定的8电子构 型。 正离子:2电子构型L计Be2 8电子构型Na+K+Ca2 18电子构型Cu+、Ag+、Zn2、Cd2+、Hg2 18+2电子构型Pb2+、Sn2+、Bi3 9-17电子构型Fe2+、Fe3、Cr3、Mn2+
2. 离子的电子构型 简单负离子一般最外层具有稳定的8电子构 型。 正离子：2电子构型Li+ Be2+ 8电子构型 Na+ K+ Ca2+ 18电子构型 Cu+ 、 Ag+ 、 Zn2+ 、 Cd2+ 、 Hg2+ 18+2电子构型 Pb2+ 、 Sn2+ 、 Bi3+ 9-17电子构型Fe 2+ 、Fe3+ 、 Cr3+ 、 Mn2+ 三、决定离子化合物性质的主要因素： 1. 离子的电荷：原子在形成离子化合物过程 中，失去或得到的电子数
3.离子半径 (1)离子半径:根据晶体中相邻正负离子间的核间 距(d测出的。d=r++r(有效离子半径) (2)离子半径变化规律 具有同一电子结构(等电子)的离子,离子 半径随原子序数的增加而减小 N3-- F- Na+ Mg2+ Al+ 2789101112 10 r(pm)171140136956550
(2) 离子半径变化规律： 具有同一电子结构（等电子）的离子，离子 半径随原子序数的增加而减小。 N3- O2- F- Na+ Mg2+ Al3+ Z 7 8 9 10 11 12 Ne 10 r(pm) 171 140 136 95 65 50 3. 离子半径： (1) 离子半径：根据晶体中相邻正负离子间的核间 距(d)测出的。d = r+ + r- （有效离子半径）