集成电路测试仪测试器件。需要指出的是，一般的集成电路测试仪只能检测器件的某些静态特性。对负载能力等静态特性和上升沿、下降沿、延迟时间等动态特性，一般的集成电路测试仪不能测试。测试器件的这些参数，须使用专门的集成电路测试仪。（2）接线错误接线错误是最常见的错误。据有人统计，在教学实验中，大约百分之七十以上的故障是由接线错误引起的。常见的接线错误包括忘记接器件的电源和地：连线与插孔接触不良：连线经多次使用后，有可能外面塑料包皮完好，但内部线断：连线多接、漏接、错接；连线过长、过乱造成干扰。接线错误造成的现象多种多样，例如器件的某个功能块不工作或工作不正常，器件不工作或发热，电路中一部分工作状态不稳定等。解决方法大致包括：熟悉所用器件的功能及其引脚号，知道器件每个引脚的功能；器件的电源和地一定要接对、接好：检查连线和插孔接触是否良好：检查连线有无错接、多接、漏接：检查连线中有无断线。最重要的是接线前要画出接线图，按图接线，不要凭记忆随想随接：接线要规范、整齐，尽量走直线短线，以免引起干扰。（3）设计错误设计错误自然会造成与预想的结果不一致。原因是对实验要求没有吃透，或者是对所用器件的原理没有掌握。因此实验前一定要理解实验要求，掌握实验线路原理，精心设计。初始设计完成后一般应对设计进行优化。最后画好逻辑图及接线图。（4）测试方法不正确如果不发生前面所述三种错误，实验一般会成功。但有时测试方法不正确也会引起观测错误。例如，一个稳定的波形，如果用示波器观测，而示波器没有同步，则造成波形不稳的假象。因此要学会正确使用所用仪器、仪表。在数字电路实验中，尤其要学会正确使用示波器。在对数字电路测试过程中，由于测试仪器、仪表加到被测电路上后，对被测电路相当于一个负载，因此测试过程中也有可能引起电路本身工作状态的改变，这点应引起足够注意。不过，在数字电路实验中，这种现象很少发生。当实验中发现结果与预期不一致时，千万不要慌乱。应仔细观测现象，冷静思考问题所在。首先检查仪器、仪表的使用是否正确。在正确使用仪器、仪表的前提下，按逻辑图和接线图逐级查找问题出现在何处。通常从发现问题的地方，一级一级向前测试，直到找出故障的初始发生位置。在故障的初始位置处，首先检查连线是否正确。前面已说过，实验故障绝大部分是由接线错误引起的，因此检查一定要认真、仔细。确认接线无误后，检查器件引脚是否全部正确插进插座中，有无引脚折断、弯曲、错插问题以及实验板器件插接端与引出端是否有断路或旁接现象。确认无上述问题后，取下器件测试，以检查器件好环，或者直接换一个好器件。如果器件和接线都正确，则需考虑设计问题。5PDF文件使用"pdfFactoryPro”试用版本创建www.fineprint.cn
5 集成电路测试仪测试器件。需要指出的是，一般的集成电路测试仪只能检测器件的 某些静态特性。对负载能力等静态特性和上升沿、下降沿、延迟时间等动态特性， 一般的集成电路测试仪不能测试。测试器件的这些参数，须使用专门的集成电路测 试仪。 （2）接线错误 接线错误是最常见的错误。据有人统计，在教学实验中，大约百分之七十以 上的故障是由接线错误引起的。常见的接线错误包括忘记接器件的电源和地；连线 与插孔接触不良；连线经多次使用后，有可能外面塑料包皮完好，但内部线断；连 线多接、漏接、错接；连线过长、过乱造成干扰。接线错误造成的现象多种多样， 例如器件的某个功能块不工作或工作不正常，器件不工作或发热，电路中一部分工 作状态不稳定等。解决方法大致包括：熟悉所用器件的功能及其引脚号，知道器件 每个引脚的功能；器件的电源和地一定要接对、接好；检查连线和插孔接触是否良 好；检查连线有无错接、多接、漏接；检查连线中有无断线。最重要的是接线前要 画出接线图，按图接线，不要凭记忆随想随接；接线要规范、整齐，尽量走直线、 短线，以免引起干扰。 （3）设计错误 设计错误自然会造成与预想的结果不一致。原因是对实验要求没有吃透，或 者是对所用器件的原理没有掌握。因此实验前一定要理解实验要求，掌握实验线路 原理，精心设计。初始设计完成后一般应对设计进行优化。最后画好逻辑图及接线 图。 （4）测试方法不正确 如果不发生前面所述三种错误，实验一般会成功。但有时测试方法不正确也 会引起观测错误。例如，一个稳定的波形，如果用示波器观测，而示波器没有同步， 则造成波形不稳的假象。因此要学会正确使用所用仪器、仪表。在数字电路实验中， 尤其要学会正确使用示波器。在对数字电路测试过程中，由于测试仪器、仪表加到 被测电路上后，对被测电路相当于一个负载，因此测试过程中也有可能引起电路本 身工作状态的改变，这点应引起足够注意。不过，在数字电路实验中，这种现象很 少发生。 当实验中发现结果与预期不一致时，千万不要慌乱。应仔细观测现象，冷静思 考问题所在。首先检查仪器、仪表的使用是否正确。在正确使用仪器、仪表的前提 下，按逻辑图和接线图逐级查找问题出现在何处。通常从发现问题的地方，一级一 级向前测试，直到找出故障的初始发生位置。在故障的初始位置处，首先检查连线 是否正确。前面已说过，实验故障绝大部分是由接线错误引起的，因此检查一定要 认真、仔细。确认接线无误后，检查器件引脚是否全部正确插进插座中，有无引脚 折断、弯曲、错插问题以及实验板器件插接端与引出端是否有断路或旁接现象。确 认无上述问题后，取下器件测试，以检查器件好坏，或者直接换一个好器件。如果 器件和接线都正确，则需考虑设计问题。 PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn
3、基本实验实验一基本逻辑门逻辑实验一、实验目的1、掌握TTL与非门、与或门和异或门输入与输出之间的逻辑关系。2、熟悉TTL中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法。二、实验所用器件和仪表1片1、二输入四与非门74LS001片2、二输入四或非门74LS281片3、二输入四异或门74LS86三、实验内容1、测试二输入四与非门74LS00一个与非门的输入和输出之间的逻辑关系2、测试二输入四或非门74LS28一个或非门的输入和输出之间的逻辑关系3、测试二输入四异或门74LS86一个异或门的输入和输出之间的逻辑关系四、实验提示1、将被测器件插入实验箱上的14脚插座中。2、将器件的引脚7与实验箱的“地（GND）”连接，将器件的引脚14与实验箱的+5V连接。3、用实验箱的逻辑开关输出作为被测器件的输入。按入或弹出逻辑开关，则改变器件的输入电平。4、将被测器件的输出引脚与实验箱上的逻辑状态显示灯连接。指示灯亮红色表示输出电平为1，指示灯亮绿色表示输出电平为0。五、实验接线图及实验结果74LS00中包含4个二与非门，74LS28中包含4个二或非门，74LS86中包含4个二异或门，下面各画出测试第一个逻辑门逻辑关系的接线图及测试结果。测试其它逻辑门时的接线图与之类似。测试时各器件的引脚7接地，引脚14接+5V。图中的K1、K2是逻辑开关输出，LED0是逻辑状态显示灯。1、测试74LS00逻辑关系接线图及测试结果U2AK1营LELO27ALS006PDF文件使用”pdfFactoryPro”试用版本创建www.fineprint.cn
6 3、基本实验 实验一 基本逻辑门逻辑实验 一、实验目的 1、掌握 TTL 与非门、与或门和异或门输入与输出之间的逻辑关系。 2、熟悉 TTL 中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法。 二、实验所用器件和仪表 1、二输入四与非门 74LS00 1 片 2、二输入四或非门 74LS28 1 片 3、二输入四异或门 74LS86 1 片 三、实验内容 1、测试二输入四与非门 74LS00 一个与非门的输入和输出之间的逻辑关系 2、测试二输入四或非门 74LS28 一个或非门的输入和输出之间的逻辑关系 3、测试二输入四异或门 74LS86 一个异或门的输入和输出之间的逻辑关系 四、实验提示 1、将被测器件插入实验箱上的 14 脚插座中。 2、将器件的引脚 7 与实验箱的“地（GND）”连接，将器件的引脚 14 与实验箱的 +5V 连接。 3、用实验箱的逻辑开关输出作为被测器件的输入。按入或弹出逻辑开关，则改变 器件的输入电平。 4、将被测器件的输出引脚与实验箱上的逻辑状态显示灯连接。指示灯亮红色表示 输出电平为 1，指示灯亮绿色表示输出电平为 0。 五、实验接线图及实验结果 74LS00 中包含 4 个二与非门，74LS28 中包含 4 个二或非门，74LS86 中包 含 4 个二异或门，下面各画出测试第一个逻辑门逻辑关系的接线图及测试结果。 测试其它逻辑门时的接线图与之类似。测试时各器件的引脚 7 接地，引脚 14 接 +5V。图中的 K1、K2 是逻辑开关输出，LED0 是逻辑状态显示灯。 1、测试 74LS00 逻辑关系接线图及测试结果 PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn