第五章偏光显微镜下晶体的光学性质84 透明矿物薄片的系统鉴定1系统鉴定内容1.单偏光镜下观察：晶形、颜色及多色性、解理及夹角、相对折射率（突起、糙面及贝克线移动规律）。2.正交偏光镜下观察：干涉色级序、消光类型及消光角测定、延性符号及双晶等。3.锥光下的观察：轴性、光性正负、2V大小、确定切片方向
第五章 偏光显微镜下晶体的光学性质 §4 透明矿物薄片的系统鉴定 ■ 系统鉴定内容 1.单偏光镜下观察： 晶形、颜色及多色性、解理及夹角、相对折射率 （突起、糙面及贝克线移动规律）。 2.正交偏光镜下观察： 干涉色级序、消光类型及消光角测定、延性符号及 双晶等。 3.锥光下的观察： 轴性、光性正负、2V大小、确定切片方向
第五章偏光显微镜下晶体的光学性质84透明矿物薄片的系统鉴定4.定向切片的选择：垂直光轴切片：★特点：单偏光下不显多色性，正交镜下全消光锥光下显一轴晶或二轴晶垂直光轴的干涉图★可测定的光学性质观察No（一轴晶）或Nm（二轴晶）的颜色／测定No或Nm折射率；判断轴性，测定光性符号；估计2V大小（二轴晶）
第五章 偏光显微镜下晶体的光学性质 §4 透明矿物薄片的系统鉴定 4.定向切片的选择： ● 垂直光轴切片： ★ 特点：单偏光下不显多色性，正交镜下全消光， 锥光下显一轴晶或二轴晶垂直光轴的干涉图。 ★ 可测定的光学性质： ＊观察No（一轴晶）或Nm（二轴晶）的颜色， 测定No或Nm折射率； ＊判断轴性，测定光性符号； ＊估计2V大小（二轴晶）
第五章偏光显微镜下晶体的光学性质84透明矿物薄片的系统鉴定平行光轴或光轴面的切片★特点：多色性显著，干涉色最高，锥光下为瞬变干涉图。★可测定的光学性质：观察Ne、No（一轴晶）或Ng、Np（二轴晶）的颜色，多色性明显程度；测定主折射率Ne、No或Ng、Np，观察闪突起;测定最高干涉色级序和最大双折率值；测定单斜晶系最大消光角
第五章 偏光显微镜下晶体的光学性质 §4 透明矿物薄片的系统鉴定 ● 平行光轴或光轴面的切片： ★ 特点：多色性显著，干涉色最高，锥光下为瞬变 干涉图。 ★ 可测定的光学性质： ＊观察Ne、No（一轴晶）或Ng、Np（二轴晶） 的颜色，多色性明显程度； ＊测定主折射率Ne、No或Ng、Np，观察闪突 起； ＊测定最高干涉色级序和最大双折率值； ＊测定单斜晶系最大消光角
第五章偏光显微镜下晶体的光学性质84透明矿物薄片的系统鉴定系统鉴定程序1.区分均质体和均质体均质体:无干涉图；全消光非均质体工OA切片：有干涉图四次消光：非均质体除垂直光轴的任意切片2.均质体矿物的鉴定单偏光下观察晶形、解理及夹角测定、相对折射率等
第五章 偏光显微镜下晶体的光学性质 §4 透明矿物薄片的系统鉴定 ■ 系统鉴定程序 1. 区分均质体和非均质体 均质体:无干涉图； 全消光 非均质体⊥OA切片：有干涉图 四次消光：非均质体除垂直光轴的任意切片 2. 均质体矿物的鉴定 单偏光下观察晶形、解理及夹角测定、相对折 射率等
第五章偏光显微镜下晶体的光学性质S4透明矿物薄片的系统鉴定3非均质矿物的鉴定单偏光：晶形、解理及夹角、突起（相对折射率）。1正交偏光：消光类型、双晶，测定延性符号等2）选择工OA的切片，锥光下据干涉图特点确定轴性3光性正负。若为二轴晶，估计2V大小。单偏镜下，若为有色矿物，观察No或Nm的颜色。选择IOA（或AP）的切片，正交镜下测定干涉色4级序、双折率大小。若为有色矿物，使Ne(或Ng)IPP，单偏镜下观察Ne(或Ng)颜色；转物台90°使No（或Np）ⅡIPP,观察No或Np的颜色。同时观察多色性明显程度、吸收性及闪突起等
第五章 偏光显微镜下晶体的光学性质 §4 透明矿物薄片的系统鉴定 3. 非均质矿物的鉴定 ①单偏光：晶形、解理及夹角、突起（相对折射率）。 ②正交偏光：消光类型、双晶，测定延性符号等。 ③选择⊥OA的切片，锥光下据干涉图特点确定轴性、 光性正负。若为二轴晶，估计2V大小。单偏镜下， 若为有色矿物，观察No或Nm的颜色。 ④选择∥OA（或AP）的切片，正交镜下测定干涉色 级序、双折率大小。若为有色矿物，使Ne(或 Ng)∥PP，单偏镜下观察Ne(或Ng)颜色；转物台 90°使No（或Np）∥PP,观察No 或Np的颜色。同 时观察多色性明显程度、吸收性及闪突起等