一、光的基本性质 二、介质对光的反射与折射 三、介质对光的吸收 四、介质对光的散射与色散 五、材料的光发射 六、激光与激光材料

1.一圆杆的直径为2.5mm、长度为25cm并受到4500N的轴向拉力,若直径拉细至2.4mm, 且拉伸变形后圆杆的体积不变,求在此拉力下的真应力、真应变、名义应力和名义应变, 并比较讨论这些计算结果

1解:△S=KhW=Kn (N-n)l n! F=△E-T△S=△E- KTLn N-ln(N-n)-lnn!] 根据 Stirling公式:当N很大时,hN=NhN-N,将上式整理得 △F=△E- KTINIn N-(N-n)h(N-n)-nhn] 平衡时,自由能具有最小值,由于热缺陷n引起的自由焓的变化()xp=0

1.解: sin l W W=W+ W w W 1-m 其折射光又从玻璃与空气的另一界面射入空气

1.垂直于板面方向磁化则为垂直于磁场方向 退磁场Hd=-NM 大薄片材料,退磁因子Na=Nb=0,Nc=1 所以Hd=-M=-= J 1Wb/m2 4×10-7Hm =7.96×105A/m

1解: 0.05eV 查S的E=12eV,AED=E-ED 0.29eV ED-EF=EC-E (EF-E) Egl. 12eV E-E 0.29-0.05=0.22e

第一节 原理 第二节 穆斯堡尔谱参数 第三节 实验技术

一、概述 表面分析技术(Surface Analysis)是对材料外层(the Outer-Most- Layers of Materials(<100A)的研究的 技术。包括:

第一节振动光谱的基本原理 第二节红外光和红外光谱 第三节红外光谱的应用 第四节拉曼光谱

❖ 第一节 电子光学基础 ❖ 第二节 电子与固体物质的相互作用 ❖第三节 透射电镜（TEM） ❖第四节 扫描电镜 ❖第五节 电子探针(Electron Micro￾probe Analysis, EMPA or EPMA) 第六节 扫描隧道显微镜 (STM) 第七节 原子力显微镜 (AFM) 第八节 电子显微镜分析在材料研究中的应用 ❖ 一、形态、精度的分析 ❖ 二、元素的存在状态分析 ❖ 三、玻璃的非晶态结构分析 ❖ 四、材料断面的研究 ❖ 五、晶界（微观研究） ❖ 六、微区结构分析 ❖ 七、高分子材料的研究