(3)石英楔(平行OA方向由薄至后的楔形) 在正交偏光镜间产生一到四级连续干涉色,光程差0 2240nm,Ng平行短边 当物台上放置晶体切片,从试板孔由薄至后插入石英楔,同名 轴平行时,干涉色升高:异名轴平行时,干涉色逐渐降低,至 晶体切片消色出现黑带(R1=R2,总光程差R=0) 注:补色后,判断干涉色升降,应以干涉色较高者为基准。 如:晶体切片干涉色为一级灰白(R=150nm),加入石膏试板 (R=560nm)后,同名轴平行,总光程差为710nm,干涉色升高 异名轴平行,总光程差为410nm,干涉色降低(对干涉色较高 的石膏试板而言)
36 • （3）石英楔（平行OA方向由薄至后的楔形） • 在正交偏光镜间产生一到四级连续干涉色，光程差0 ～ 2240nm，Ng平行短边。 • 当物台上放置晶体切片，从试板孔由薄至后插入石英楔，同名 轴平行时，干涉色升高；异名轴平行时，干涉色逐渐降低，至 晶体切片消色出现黑带（ R1=R2，总光程差R=0）。 • 注：补色后，判断干涉色升降，应以干涉色较高者为基准。 • 如：晶体切片干涉色为一级灰白（R=150nm)，加入石膏试板 (R=560nm)后，同名轴平行，总光程差为710nm，干涉色升高； 异名轴平行，总光程差为410nm，干涉色降低（对干涉色较高 的石膏试板而言）
N 1/4 平出, 1λ 刨 (a) (b) (d) 图2-38几种常用的补色器 (a)石膏试板;(b)云母试板;(c)石英楔;(d)贝瑞克;色器
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2.6正交偏光镜下晶体主要光 学性质的观察与测定 P45 2.6.1非均质体切片上光率体轴名的 测定 原理:在正交偏光镜间,将补色器与 被测晶体切片重叠后,根据干涉色的 升降判断切片上光率体椭圆轴的名称 (a)消光位 (b)转物台45 和方向 方法 ①将欲测颗粒置于视域中心,转物台 至消光位; A ②从消光位转45°,此时晶体干涉色 最 P ③选用适当的补色器从试板孔中插入,c加入试媛干色降低加入试援干涉色开高 观察干涉色变化。若干涉色升高,则 同名轴平行;若干涉色降低,则异名 图2-44非均质体矿片光率体椭圆 轴平行。由于试板轴名已知,由此可 半径方向和名称的测定 判断晶体切片的光率体椭圆轴名
38 • 2.6 正交偏光镜下晶体主要光 学性质的观察与测定 • 2.6.1 非均质体切片上光率体轴名的 测定 • 原理：在正交偏光镜间，将补色器与 被测晶体切片重叠后，根据干涉色的 升降判断切片上光率体椭圆轴的名称 和方向。 • 方法： • ①将欲测颗粒置于视域中心，转物台 至消光位； • ②从消光位转45 °，此时晶体干涉色 最亮； • ③选用适当的补色器从试板孔中插入， 观察干涉色变化。若干涉色升高，则 同名轴平行；若干涉色降低，则异名 轴平行。由于试板轴名已知，由此可 判断晶体切片的光率体椭圆轴名
2.6.2干涉色级序的观察与测定 1。切面方向与干涉色级序的关系 光程差与矿物切片的厚度和双折射率有关。而同一矿物的不同方向切片, 其双折射率不同,因而有不同的干涉色(如图所示)。在正交偏光镜间 需测定最高干涉色才有鉴定意义。一般用统计方法,精确测定需用定向 切片法。 级灰 二级红 三级红 二级红 级红 级红 a c 光轴 载玻片 图2-45切面方向与干涉色级序高低的关系
39 • 2.6.2 干涉色级序的观察与测定 • 1。切面方向与干涉色级序的关系 • 光程差与矿物切片的厚度和双折射率有关。而同一矿物的 不同方向切片， 其双折射率不同，因而有不同的干涉色（如图所示）。在正交偏光镜间 需测定最高干涉色才有鉴定意义。一般用统计方法，精确测定需用定向 切片法
(1)边缘色带法 方法:利用矿物碎屑边缘的干涉色圈判 断干涉色级序。 原理:在薄片制备过程中,矿物颗粒易 形成楔形边缘。因而矿物的干涉色也自 边缘向中央逐渐升高,形成一个序列。 红橙黄白灰 每出现一条红带,干涉色升高一级。若 共出现n条红带,则干涉色为(n+1)级。 (2)石英楔子测定法(补偿法) 根据补色原理进行测定,准确性较高。 方法 ①将欲测颗粒从消光位转45°,此时晶 体干涉色最亮; 红 ②从试板孔插入石英楔,并使晶体颗粒 灰 的光率体椭圆轴与试板异名轴平行。随 着石英楔的插入,干涉色降低,直至消 色,出现黑带。此时二者光程差相等; ③拿掉薄片,此时石英楔所显示的干涉图246矿片边缘的干涉色色圈 色与晶体单独存在时相同。慢慢抽出石 英楔,观察视域中出现红色的次数(n 40 次),干涉色为(n+1)级
40 • 2。干涉色级序的观测方法 • （ 1）边缘色带法 • 方法：利用矿物碎屑边缘的干涉色圈判 断干涉色级序。 • 原理：在薄片制备过程中，矿物颗粒易 形成楔形边缘。因而矿物的干涉色也自 边缘向中央逐渐升高，形成一个序列。 每出现一条红带，干涉色升高一级。若 共出现 n条红带，则干涉色为（n+1 )级。 • （ 2）石英楔子测定法（补偿法） • 根据补色原理进行测定，准确性较高。 • 方法： • ①将欲测颗粒从消光位转45°，此时晶 体干涉色最亮； • ②从试板孔插入石英楔，并使晶体颗粒 的光率体椭圆轴与试板异名轴平行。随 着石英楔的插入，干涉色降低，直至消 色，出现黑带。此时二者光程差相等； • ③拿掉薄片，此时石英楔所显示的干涉 色与晶体单独存在时相同。慢慢抽出石 英楔，观察视域中出现红色的次数（ n 次），干涉色为（n+1）级