衍射仪包括辐射源、测角仪、探测器、 控制测量与记录系统等，可安装各种附 件，例如高低温衍射、小角散射、织构 及应力测定等 Detector Mono chromator Divergence slit Antiscatter slit Detector X-ray slit source Sample
衍射仪包括辐射源、测角仪、探测器、 控制测量与记录系统等，可安装各种附 件，例如高低温衍射、小角散射、织构 及应力测定等
测角仪 K光管 样品台 测器
一、测角仪 扫描方式分0/20对称扫描、 0/0对称扫描及非对称扫描 等 1、0M20对称扫描 粉末衍射仪的测角仪，在构 造上与德拜相机比较相似
一 、测角仪 扫描方式分θ/ 2θ 对称扫描、 θ/θ 对称扫描及非对称扫描 等 1、θ/ 2θ 对称扫描 粉末衍射仪的测角仪，在构 造上与德拜相机比较相似
平板样品D装在样品台H 上，二者围绕O轴旋转 S射线光源，位置始终固 定，射线由S发出，照射 样品D并发生衍射 衍射线束，指向接受狭 缝F,被探测器C所接收
平板样品D装在样品台H 上，二者围绕O轴旋转 S射线光源，位置始终固 定，射线由S发出，照射 样品D并发生衍射 衍射线束，指向接受狭 缝F，被探测器C所接收
接受狭缝F和探测器C安 装在测角臂E上，可围绕 0轴旋转 当样品D转动即改变时， 衍射线束20角也发生改 变，同时改变测角臂E位 置以接收衍射
接受狭缝F和探测器C安 装在测角臂E上，可围绕 O轴旋转 当样品D转动即θ改变时， 衍射线束2θ角也发生改 变，同时改变测角臂E位 置以接收衍射